海拓儀器自主研發的高低溫沖擊試驗機TEC榮獲國家發明專利！海拓儀器 2025年05月27日 13:41 江蘇近日，海拓儀器憑借卓越的研發實力與不懈的創新追求，其自主研發的高低溫沖擊試驗機TEC成功獲得國家知識產權局頒發的發明專利證書（專利號：ZL 2020 1 0494340.X）。這一榮譽不僅是對公司技術創新能力的權威認可，更是公司在行業內技術領先地位的有力彰顯。技術優勢在當今科技飛速發展的時代，設備技術的創新是企業保持競爭力的關鍵。此次獲得發明專利的高低溫沖擊試驗機，具有多項顯著的技術優勢。該設備以突破性溫控技術為核心，具備-80℃～+150℃超寬溫度范圍與全區間≤2min的極速溫變能力，通過接觸式導熱模塊直接貼合被測物表面，實現高效熱傳導。同時整機采用PID高精度算法與可編程溫控系統，可預設復雜溫度曲線自動執行測試，溫度偏差小于0.5℃。高低溫沖擊試驗機TEC憑借高度兼容性設計，可適

國產替代浪潮下，哪些設備值得信賴？海拓儀器 2025年05月08日 16:15 江蘇國產推薦Domestic equipment在全球產業鏈重構與技術封鎖加劇的當下，中美貿易摩擦，直接沖擊半導體、新能源、5G通信等戰略產業。在此情景下，海拓儀器憑借多年核心技術累積，做到“技術對標國際、成本擊穿底線、交付碾壓周期”。 超快速冷熱沖擊試驗機 在高端精密環境試驗裝備領域，海拓儀器的超快速冷熱沖擊試驗機（熱流儀）突破傳統溫變速率限制，在-80℃至+225℃極端溫度范圍內，實現雙向-40℃至+85℃的10秒級瞬態切換，攻克了超寬溫閾與極速響應難以兼顧的行業難題。通過獨創的動態能效管理系統，該設備運行能耗較國際主流產品下降30%以上，結合抗結霜技術的突破性優化，顯著提升長期運行穩定性。其技術指標成為支撐半導體晶圓測試、動力電池可靠性驗證、航天元器件環境模擬等關鍵領域研發迭代的核心裝備。 高加速壽命試驗

國產突破！海拓儀器榮獲TEC高低溫沖擊試驗機發明專利海拓儀器 2025年04月28日 08:42 江蘇作為中國高端環境測試裝備領域的領軍企業，海拓儀器（江蘇）有限公司今日宣布，其自主研發的（TEC）高低溫沖擊試驗機正式獲得國家發明專利授權（專利號：202010494340.X）。這一突破標志著我國在精密溫控設備領域的技術自主化邁出關鍵一步，為半導體、新能源、航空航天等戰略性產業提供了更高效、更可靠的測試解決方案。技術優勢溫度范圍：-80℃～+150℃溫變速率：+25℃～-40℃≤2min -40℃～-65℃≤2min +25℃～+125℃≤2min體積小：省空間、省成本操作簡單：插電即用，無需外部冷卻系統安全可靠：系統無液體，無泄露風險，防靜電接觸式設計：導熱模塊接觸被測物表面，保障高效熱傳導高精度控溫：采用PID算法及先進溫控模

海拓儀器 | 以國產高端可靠性設備筑牢產業鏈自主化防線海拓儀器 2025年04月27日 08:46 江蘇近年來，美國對中國高科技產業加征關稅、限制技術出口等政策，倒逼國內企業加速核心技術國產化進程。半導體、光通信、顯示、新能源、汽車電子、太陽能光伏、國防軍工等領域技術的革新，對產品可靠性測試設備提出了更高要求。傳統依賴進口的測試設備面臨成本高、交付周期長等痛點，海拓儀器以“技術主權”攻堅為核心，在全面產業領域，構建起覆蓋研發-生產-認證全鏈條的可靠性測試解決方案，破解進口設備“高價卡交付、低效拖周期”的產業桎梏。 設 備 國 產 化 作為中國高端精密環境試驗裝備領域的突破性成果，海拓儀器自主研發的超快速冷熱沖擊試驗機（熱流儀）以自主可控技術體系，成功打破國外技術壟斷，實現國產高端溫控設備從“跟跑”到“領跑”的跨越式發展。該設備以超快速冷熱沖擊的方式，在-80℃至+225℃超寬溫閾內，完成雙

常見的可靠性測試標準有哪些？海拓儀器 2025年04月23日 14:16 江蘇在競爭激烈的市場環境中，產品的可靠性是贏得用戶信任的關鍵。無論是電子設備、汽車零部件，還是軍工產品，都需要通過嚴格的可靠性測試來驗證其性能。國際、國家及行業的可靠性核心標準，有助于企業精準選擇測試方案，提升產品競爭力。國際標準IEC：IEC 60068系列、IEC 61000系列ISO：ISO 16750系列ASTM：ASTM D 系列SAE ：SAE J 系列JEDEC：JESD22 系列IPC ：IPC-TM-650 系列國家標準GB：GB/T 2423 、GB/T 10592、GB/T 10586、GB/T 10596行業標準EIA ：EIA-364 系列IPC ：IPC-TM-650 系列UL：UL 系列IEEE ：IEEE 系列可靠性測試不僅是產品合規的“通行證”，更是企業技術實力的體現。通過精準選擇標

半導體芯片可靠性測試有哪些？海拓儀器 2025年04月16日 11:08 江蘇半導體芯片可靠性試驗是通過模擬芯片在實際應用中可能遭遇的極端環境（如高溫、低溫、濕度、機械沖擊等）和長期工作狀態，系統性評估其性能穩定性、壽命及失效模式的測試過程。其核心目標是確保芯片在預設壽命內，能夠持續穩定地完成預期功能，同時滿足行業標準與終端應用場景的嚴苛要求。1環境應力試驗預處理目的：通過模擬實際使用環境中的各種應力和條件，提前識別和排除潛在缺陷，確保芯片在后續流程中的可靠性。測試方法：JEDEC JESD22-A113有偏溫濕度或有偏高加速應力測試目的：是通過施加電偏置+環境應力的復合條件，加速失效機制，從而識別設計、材料或工藝中的薄弱環節。測試方法：JEDEC JESD22-A101或A110高壓或無偏高加速應力測試或無偏溫濕度目的：用于評估芯片在無電偏置條件下對極端環境或機械應力的耐受能力，重點